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X射線熒光光譜鍍層分析儀（X-Ray）適用于測定電鍍及電子線路板等行業需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括：金（Au），銀（Ag），錫（Sn），銅（Cu），鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。可同時測量三層覆蓋層體系，或同時測量三層組分的厚度和成分，是一款性價比*的產品，得到了廣泛應用和認可。