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電鍍廠一站式解決鍍層測厚
產品簡介
| 品牌 | SKYRAY/天瑞儀器 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合 |
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EDXTHICK800 是天瑞儀器(SKYRAY)推出的一款上照式、全自動、高精度 X 射線熒光(XRF)鍍層測厚儀,專為工業精密檢測設計,集膜厚測試、成分分析、RoHS 檢測于一體,是電鍍、電子、珠寶、五金等行業的核心質檢設備。
設備類型:臺式能量色散 X 熒光光譜儀(XRF)
測量原理:利用 X 射線激發樣品表面,通過分析熒光射線能量與強度,無損計算鍍層厚度與元素成分
核心優勢:微米級精度、全自動定位、多層同步分析、一機多用
測量元素:成分分析(Al 鋁 - U 鈾);鍍層分析(Li 鋰 - U 鈾)
鍍層能力:同時分析≥5 層鍍層、24 種元素
厚度范圍:0.005μm~50μm(超薄至常規鍍層)
檢測速度:5~40 秒 / 樣(常規 10 秒出數)
探測器:Fast-SDD 半導體探測器(分辨率 140±5eV)
X 光源:100W 高功率微聚焦 W 靶光管
準直器:Φ0.1/0.2/0.3mm 等(最小光斑 0.1mm)
樣品臺:全自動 XYZ 三維平臺(X/Y 行程 100mm×100mm)
定位系統:雙激光定位 + CCD 視覺(25~200 倍放大)
安全設計:雙重防撞保護(機械 + 激光)
儀器尺寸:485×588×505mm
多層鍍層精準測厚
同步測金、銀、鎳、銅、鈀、鋅等單層 / 多層 / 合金鍍層
解決深孔、盲孔、異形件、微小件(如 PCB 端子、連接器)測厚難題
成分與有害元素分析
測金屬純度、合金成分(K 金、鉑、鈀等)
同步篩查RoHS(鉛、汞、鎘、六價鉻等)