產品介紹

X射線金屬鍍層測厚儀是天瑞儀器的優勢產品，打破了國外壟斷的局面，主要用于金屬鍍層——鍍金，鍍鎳，鍍鋅，鍍錫，鍍銅，鍍銀，鍍銠，鍍鈀等厚度的檢測，廣泛應用在電器電器、五金工具、汽車配件、高壓開關、制冷設備、精密五金、電鍍加工、衛浴、PCB線路板等企業，thick8000是天瑞儀器款的X射線金屬鍍層測厚儀，三維移動平臺和高清射線系統，使整個測試更加精確、清晰。

性能優勢

精密的三維移動平臺

的樣品觀測系統

良好的圖像識別

輕松實現深槽樣品的檢測

開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣；

關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦；

直接點擊全景或局部景圖像選取測試點；

點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示結果。

四種微孔聚焦準直器，自動切換

雙重保護措施，實現無縫防撞

采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度

全自動智能控制方式，一鍵式操作!

開機自動自檢、復位；

技術指標

SDD探測器：分辨率低至135eV

分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）

X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s zui高速度333.3mm/s

X/Y/Z平臺重復定位精度：小于0.1um

同時檢測元素：zui多24個元素，多達5層鍍層

分析含量：一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）

良好的微孔準直技術：zui小孔徑達0.1mm,zui小光斑達0.1mm

樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭

準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合

操作環境濕度：≤90%

操作環境溫度：15℃～30℃

儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm

廠家介紹

江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業生產光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售一體型企業。 2011年1月25日，天瑞儀器在深圳創業板塊上市。股票代碼為300165。

公司的X熒光檢測技術具有快速、精確、無損的特點。X熒光分析儀可以應用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的領域，如：電子電器（RoHS檢測）、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測）、玩具安全（EN71-3）、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(鋼鐵、有色金屬)、石油（微量元素S、Pb等）、化工、地質采礦、商品檢驗、質量檢驗甚至人體微量元素的檢驗等等。

部分產品

 x-ray膜厚儀，鍍金鍍銀測厚儀，ROHS檢測儀（EDX1800EDX1800B)，直讀光譜儀， ROHS檢測設備，手持式合金分析儀，氣相質譜儀，液相質譜儀，原子熒光光譜儀，電感耦合等離子發射光譜儀，手持式光譜儀，等離子體質譜儀， 鍍層膜厚測試儀，便攜式不銹鋼材質檢測儀，合金材質光譜檢測儀，便攜式X熒光能譜儀，X熒光鍍層測厚儀，X熒光光譜儀，不銹鋼合金分析儀，ROHS六項檢測儀，X射線熒光測厚儀，X熒光測厚儀，ROHS儀器，氣質聯用儀，液質聯用儀，ROHS鹵素檢測儀，便攜式水質重金屬檢測儀，x熒光光譜分析儀，手持式xrf合金分析儀，手持式光譜分析儀，x射線熒光測厚儀，氣相色譜質譜聯用儀，液相質譜聯用儀，便攜式合金分析儀，ROHS測試儀，x-ray鍍層測厚儀，環保ROHS檢測儀，ROHS熒光光譜儀，手持式金屬檢測儀，手持式水質重金屬分析儀，鍍層檢測儀，手持式金屬材料分析儀，手持式光譜儀，X射線金屬鍍層測厚儀等儀器。

售后服務

售后服務片區（劃分）、和技術引導與維護。服務片區劃分已經*覆蓋全國主要省市，主要根據客戶的分布和公司業務區域的劃分，把中國大陸劃分12個工作區域， 包括：廣州、佛山、湖北片區，廈門片區，珠海、中山、云貴川片區， 山東片區，蘇州、安徽、上海片區，北京、天津、河南、河北片區，惠州、汕頭、福建片區，深圳、東莞片區，浙江片區、山西、陜西西北片區，青海片區、東北三省片區。另外，除中國大陸以外片區香港、中國臺灣及海外片區。公司通過等遠程維護、上門服務、返廠維修以及對客戶使用人員的技術培訓來實現技術的應到和維護。

天瑞儀器作為X射線金屬鍍層測厚儀生產廠家，分析儀器上市公司，產品質量、售后服務、價格都具有的優勢。

工作原理

若一個電子由軌道游離，則其他能階的電子會自然的跳至他的位置，以達到穩定的狀態，此種不同能階轉換的過程可釋放出能量，即X-射線。因為各元素的每一個原子的能階均不同，所以每一元素軌道間的能階差也不同相同。

下述可描述X-射線熒光的特性：若產生X-射線熒光是由于轉移一個電子進入K 軌道，一個K軌道上的電子已事先被游離，另一個電子即代替他的地位，此稱之為K 輻射。不同的能階轉換出不同的能量，如Kα輻射是電子由L軌道跳至K軌道的一種輻射，而Kβ輻射是電子從M 軌道跳至K軌道的一種輻射，其間是有區別的。若X-射線熒光是一個電子跳入L的空軌域，此種輻射稱為L輻射。同樣的L 輻射可劃分為Lα 輻射，此是由M軌道之電子跳入L軌道及Lβ 輻射，此是由N 軌道之電子跳入L 軌道中 。由于Kβ輻射能量約為Kα的11%，而Lβ輻射能量較Lα大約20%，所以以能量的觀點Lα及Lβ是很容易區分的。

原子的特性由原子序來決定，亦即質子的數目或軌道中電子的數目，即如圖所示特定的X-射線能量與原子序間的關系。K輻射較L輻射能量高很多，而不同的原子序也會造成不同的能量差。

特定的X-射線可由比例計數器來偵測。當輻射撞擊在比例器后，即轉換為近幾年的脈波。電路輸出脈沖高度與能量撞擊大小成正比。由特殊物質所發出的X-射線可由其后的鑒別電路記錄。

使用X-射線熒光原理測厚，將被測物置于儀器中，使待測部位受到X-射線的照射。此時，特定X-射線將由鍍膜、素材及任何中間層膜產生，而檢測系統將其轉換為成比例的電信號，且由儀器記錄下來，測量X-射線的強度可得到鍍膜的厚度。